Gerätetechnik

DualBeam FEI Scios

• REM-FIB Gerät für 3-dim. Untersuchungen
• EDAX-Analytik mit EDX, WDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen
• in-situ Zug-Druckprüfung bis 5kN
• in-situ Heiztisch bis 1000°C

Rasterelektronenmikroskop FEI XL30

• FEG-Kathoden REM
• EDAX-Analytik mit EDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen

Focused Ion Beam FEI Strata

• Ga-Ionenstrahlmikroskop zur Anfertigung von cross section und zur TEM-Lamellenpräparation

Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO 15

• Rasterelektronenmikroskop mit EDX zur Materialcharakterisierung

Experimentelles Labor für Materialanalyseverfahren

• Neu- und Weiterentwicklung von mikroskopischen und materialanalytischen Verfahren
• Entwicklung und Test von Röntgenquellen für Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
• abbildende Röntgenverfahren
• Röntgenspektroskopie