| DualBeam FEI Scios |
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- REM-FIB Gerät für 3-dim. Untersuchungen
- EDAX-Analytik mit EDX, WDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen
- in-situ Zug-Druckprüfung bis 5kN
- in-situ Heiztisch bis 1000°C
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Rasterelektronenmikroskop FEI XL30 |
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- FEG-Kathoden REM
- EDAX-Analytik mit EDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen
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Focused Ion Beam FEI Strata |
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- Ga-Ionenstrahlmikroskop zur Anfertigung von cross section und zur TEM-Lamellenpräparation
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Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO 15 |
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- Rasterelektronenmikroskop mit EDX zur Materialcharakterisierung
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Experimentelles Labor für Materialanalyseverfahren |
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- Neu- und Weiterentwicklung von mikroskopischen und materialanalytischen Verfahren
- Entwicklung und Test von Röntgenquellen für Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
- abbildende Röntgenverfahren
- Röntgenspektroskopie
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